1. Design of testable logic circuits

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اطلاع رسانی دانشگاه شاهد (تهران)

موضوع : Logic circuits,Logic circuits--Testing

رده :
TK
،
7868
،.
L6
,
B45
،
1984

2. Design of testable logic circuits

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)

موضوع : LOGIC CIRCUITS , LOGIC CIRCUITS-TESTING

رده :
TK
7868
.
L6
B45
1984

3. Design of testable logic circuits

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)

موضوع : Logic circuits,Logic circuits - Testing

رده :
TK
7686
.
L6B45
1984

4. Introduction to digital board testing

پدیدآورنده :

موضوع : $ADigital integrated circuits - Testing,$APrinted circuits - Testing

۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.

5. Introduction to digital board testing

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)

موضوع : ، Digital integrated circuits- Testing,، Printed circuits- Testing

رده :
TK
7874
.
B43
1982

6. Introduction to digital board testing

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)

موضوع : DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS-TESTING , PRINTED CIRCUITS-TESTING

رده :
TK
7874
.
B43

7. Mathematical methods in human geography and planning

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران (تهران)

موضوع : Anthropo - Geography - Mathematicas,automobiles - - Geography - Mathematical models

رده :
GF
23
.
M35
W55
1985

8. Testability concepts for digital ICs : the macro test approach

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)

موضوع : ، Digital integrated circuits-- Testing,، Automatic checkout equipment

رده :
TK
7874
.
65
.
B44
1996

9. Testability concepts for digital ICs : the macro test approach

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)

موضوع : Digital integrated circuits - Testing , Automatic checkout equipment

رده :
TK
7874
.
65
.
B44
1995